Spektrometr EDX GENIUS 5000 XRF to przenośne urządzenie, które analizuje wszelkiego rodzaju stopy od stali nierdzewnej, narzędziowej, chromowej/molibdenowej do stopów kobaltu, niklu, tytanu, miedzi, mosiądzu, cynku itd. Stosowany jest głównie w identyfikacji materiału wsadowego w przemyśle hutniczym oraz do kontroli jakości w przemyśle odlewniczym. Analizuje jakość i skład materiałów stosowanych do budowy okrętów, samolotów itp. Pozwala na identyfikację i sortowanie złomu metalowego, dzięki czemu możliwa jest sprawna klasyfikacja i wycena nawet w trudnych warunkach terenowych.
Model |
Spektrometr EDX GENIUS 5000 XRF |
detektor |
25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil |
lampa |
rentgenowska 40 kV / 100 uA typu end-window z anodą Ag |
rozdzielczość |
139 eV |
pierwiastki |
od magnezu do uranu |
czas analizy |
3-30 sek. |
analiza równoczesna |
do 30 pierwiastków |
zakres pomiaru |
ppm - 99,99% |
zakres detekcji |
do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy |
formy próbek |
stałe, płynne i proszkowe |
GPS, WiFi |
moduł GPS i złącze WiFi |
filtr/ kolimator |
6 fi ltrów do wyboru z oprogramowania |
zasilanie |
akumulator 7800 mAh, do 8 godzin ciągłej pracy. |
warunki otoczenia |
temperatura: -20 °C to + 50 °C |
wymiary |
234 x 306 x 82 mm (LxHxW) |
waga |
1.9 kg |