Producent

Skyray

Produkty firmy Skyray w ofercie Labindex

Produkty firmy Skyray w ofercie Labindex

Spektrometr AFS 200T

Spektrometr AFS 200T

Spektrometry AFS 200T fluorescencji atomowej: Zakres analityczny As, Sb, Bi, Hg, Se, Te, Pb, Sn, Ge, Zn, Cd; Granice wykrywalności As, Sb ≤ 0,01 ng/ml; Hg ≤ 0,001 ng/ml; Dokładność ≤ 1%.

Spektrometr ICP 2000

Spektrometr ICP 2000

Spektrometry ICP 2000 firmy Skyray: Częstotliwość pracy 40MHz±0.05%; Stabilność częstotliwości <0.1%; Moc wyjściowa 800W-1200W;Stabilność mocy wyjściowej <0.3%;

Spektrometr ICP ICP2060P

Spektrometr ICP ICP2060P

Spektrometry ICP ICP2060P firmy Skyray: Zakres analityczny od siarki do uranu (76 elementów razem); Dolna granica detekcji 0,1 - 10 ppb lubniższe; Analiza 5-8 elementów na minutę; Czas testu 30 sekund.

Spektrometr XRF OSA 100

Spektrometr XRF OSA 100

Spektrometry XRF OSA 100 firmy Skyray: zakres analityczny od Ca do U; jednoczesna analiza do 24 kanałów w dowolnej sekwencji,; czas pomiaru ok. 30 sek; okres pomiaru średnio: 12-13 minut dla 12 próbek; limit detekcji 30-500ppm.

Spektrometr XRF WDX 200

Spektrometr XRF WDX 200

Spektrometry XRF WDX 200 firmy Skyray zakres analityczny Na na U (do 10 jednocześnie); detektor proporcjonalny przepływu gazu + uszczelniony detektor proporcjonalny; czas pomiaru ≤3-5 min, system przepływu gazu stabilizator gęstości gazu, stabilizacja ciśnienia do +/- 0,003 kPa .

Spektrometr XRF WDX 400

Spektrometr XRF WDX 400

Spektrometry XRF WDX 400 firmy Skyray zakres analityczny Na na U (do 10 jednocześnie); detektor proporcjonalny przepływu gazu + uszczelniony detektor proporcjonalny; czas pomiaru ≤3-5 min, system przepływu gazu stabilizator gęstości gazu, stabilizacja ciśnienia do +/- 0,003 kPa .

Spektrometr AAS 8000

Spektrometr AAS 8000

Spektrometry AAS 8000 firmy Skyray; Spektrometr AAS 8000 Czerny-Turner; Dokładność długości fali ± 0,25 nM; Przepustowość 0,1 / 0,2 / 0,4 / 0,7 / 1,4 nm; Szybkość nagrzewania 3000 ℃ / s; Precyzja <2%.

Spektrometr EDX GENIUS 9000 XRF

Spektrometr EDX GENIUS 9000 XRF

Spektrometry EDX GENIUS 9000 XRF firmy Skyray: są przeznaczone do analizy środowiska, a w szczególności do pomiaru zanieczyszczenia gleb metalami;25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil; rozdzielczość 139 eV; czas analizy 3-30 sek.; analiza równoczesna do 30 pierwiastków; zakres pomiaru ppm - 99,99%; zakres detekcji do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy.

Spektrometr XRF THICK 800A

Spektrometr XRF THICK 800A

Spektrometry XRF THICK 800A firmy Skyray: zakres analityczny od S do U; pomiar więcej niż 5 warstw; powtarzalność do 10 nm; wysoka dokładność pomiarów, granica wykrywalności 2 ppm; wymiary 648mm x 490mm x 544mm; waga 90 kg.

Spektrometr AAS 6000

Spektrometr AAS 6000

Spektrometry AAS 6000 firmy Skyray: Układ optyczny jednowiązkowy; Ogniskowa monochromatora 350; mm; Zakres długości fali 190 - 900 nm; Przepustowość 0.1nm, 0.2nm, 0.4nm, 0.7nm, 1.4nm, Stabilność 0.003 Abs/0.5 godz.

Spektrometr EDX GENIUS 7000 XRF

Spektrometr EDX GENIUS 7000 XRF

Spektrometry EDX GENIUS 7000 XRF firmy Skyray: są przeznaczone do analizy prób mineralnych w terenie i badań prób gleby; 25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil; rozdzielczość 139 eV; czas analizy 3-30 sek.; analiza równoczesna do 30 pierwiastków; zakres pomiaru ppm - 99,99%; zakres detekcji do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy.

Spektrometr THICK 680

Spektrometr THICK 680

Spektrometry THICK 680 firmy Skyray to profesjonalny wykrywacz metali szlachetnych; zakres analityczny od Ti do U; detektor licznik proporcjonalny; obserwacja próbki kamera CCD.

Spektrometr EDX GENIUS 5000 XRF

Spektrometr EDX GENIUS 5000 XRF

Spektrometry EDX GENIUS 5000 XRF firmy Skyray: analizują wszelkiego rodzaju stopy od stali nierdzewnej, narzędziowej, chromowej/molibdenowej do stopów kobaltu, niklu: 25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil; rozdzielczość 139 eV; czas analizy 3-30 sek.; analiza równoczesna do 30 pierwiastków; zakres pomiaru ppm - 99,99%; zakres detekcji do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy.

Spektrometr EDX GENIUS 3000 XRF

Spektrometr EDX GENIUS 3000 XRF

Spektrometry EDX GENIUS 3000 XRF firmy Skyray: można nimi badać niebezpieczne pierwiastki w produktach przemysłowych lub elementach elektronicznych; 25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil; rozdzielczość 139 eV; czas analizy 3-30 sek.; analiza równoczesna do 30 pierwiastków; zakres pomiaru ppm - 99,99%; zakres detekcji do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy.

Spektrometr XRF EDX POCKET III

Spektrometr XRF EDX POCKET III

Ręczne spektrometry XRF EDX POCKET III: Służą do analizy substancji niebezpiecznych, gleby metali szlachetnych oraz minerałów i składów stopów; detektor 13mm 1 elektro-chłodzący detektor Si-PIN; czas detekcji 10-200 sek.; 26 elementów może być badanych jednocześnie; granica wykrywalności 0,001% ~ 0,01%;waga 1.35 kg.

Spektrometr XRF EDX 3000PLUS

Spektrometr XRF EDX 3000PLUS

Spektrometry XRF EDX 3000PLUS do analiz metali i powłok jubilerskich; detektor SDD chłodzony elektrycznie; czas analizy 30-200 sek.; zakres analizy ppm - 99,99%; dokładność pomiaru 0,05% (zawartość głównego składnika ponad 96%); wymiary 439mm×300mm×50mm; waga 45 kg.

Spektrometr XRF EDX 880

Spektrometr XRF EDX 880

Spektrometry XRF EDX 880 analiza metali szlachetnych i pomiarów grubości powłok; czas analizy 60-100 sek.; mierzone pierwiastki Au, Ag, Pt, Pd, Cu, Zn, Ni, Rh, Cd, Ru itp.; powtarzalność pomiaru 0,05% ~0,1% (zawartość głównego skłdnika > 96%) 0,01 µm ~0,05 µm (dla analizy powłok).

Spektrometr XRF EDX 6000B

Spektrometr XRF EDX 6000B

Spektrometry XRF EDX 6000B do pełnych analiz pierwiastkowych w przemyśle cementowym i mineralnym.: Si-PIN chłodzony elektrycznie detektor; czas analizy 60-200 sek.; zakres analizy 1 ppm - 99,99%, dla Cd/Pb/Cr/Hg/Br limit detekcji do 1 ppm; powtarzalność pomiaru 0,05% (powyżej 96%).

Spektrometr XRF EDX 3600L

Spektrometr XRF EDX 3600L

Spektrometry XRF EDX 3600L firmy Skyray do badań archeologicznych; detektor Si-PIN chłodzony elektrycznie; czas analizy 60-200 sek.; zakres analizy 1 ppm - 99,99%; wielopierwiastkowa analiza równoczesna; duża komora próżniowa: 600 x 600 x 1000 mm; waga 280 kg.

Spektrometr XRF EDX3600B

Spektrometr XRF EDX3600B

Spektrometry XRF EDX3600B firmy Skyray: wykonują dokładne i szybkie analizy pierwiastkowe prób mineralnych i metali; chłodzony elektrycznie detektor; czas analizy 60-200 sek.; mierzone pierwiastki od sodu do uranu; powtarzalność pomiaru 0,05%; zakres analizy 1 ppm - 99,99%; waga 75 kg; automatyczne przełączanie filtrów i kolimatorów.

Spektrometr XRF EDX 3200S

Spektrometr XRF EDX 3200S

Spektrometry XRF EDX 3200S firmy Skyray: zaprojektowane w celu szybkiej analizy produktów petrochemicznych; zakres analizy 5 ppm - 99,99%; mierzone pierwiastki od fosforu do uranu; analizy pierwiastkowe w produktach petrochemicznych i innych; czas analizy 60-100 sek.

Spektrometr XRF EDX 3000D

Spektrometr XRF EDX 3000D

Spektrometry XRF EDX 3000D firmy Skyray: próbki od siarki do uranu; dokładność 0,05% - 0,1% ; czas testu 60 - 200 sekund; waga 110 kg.

Spektrometr XRF EDX 3000

Spektrometr XRF EDX 3000

Spektrometry XRF EDX 3000 firmy Skyray:analiza metali szlachetnych; próbki od siarki do uranu (razem 76 elementów); dokładność 0,05% - 0,1%; czas testu 60-200 sekund; waga 30 kg

Chromatograf gazowy GC 5400

Chromatograf gazowy GC 5400

Chromatografy GC 5400 firmy Skyray: Zakres temperatury 7°C ~ 400°C; Szybkość podgrzewania/schładzania 0.1°C ~ 40°C/min, przyrost co 0.1°C; Czułość M ≤ 1 ×10-11 g/s (C16); Najlepsze wyniki testów M ≤ 8 ×10-12 g/s (C16).

Spektrometr XRF EDX 1800B

Spektrometr XRF EDX 1800B

Spektrometry XRF EDX 1800B firmy Skyray: do wykrywania i analizy zawartości złota, srebra, platyny oraz innych metali szlachetnych stosowanych przy wyrobie biżuterii; zasada pomiaru EDXRF; typ próbek stałe, ciekłe, proszek; zakres analityczny ppm do 99,99%; rozdzielczość 160 ± 5EV.

Spektrometr XRF EDX 600

Spektrometr XRF EDX 600

Spektrometry XRF EDX 600 firmy Skyray: zaprojektowane specjalnie dla przemysłu metali szlachetnych.; dokładność 0,5% - 1% ; napięcie 5 - 50 KV; czas testu 60 sekund; wilgotność otoczenia <71%; temperatura otoczenia 5 ° C - 30 ° C.

Spektrometr EDX Przenośny I XRF

Spektrometr EDX Przenośny I XRF

Spektrometry EDX Przenośne I XRF firmy Skyray: zastosowanie do badań hydrologicznych i archeologicznych; zakres analizy 1 ppm-99.99%; powtarzalność i stabilność 0,1%; czas testu 30 sek.; waga 1,35 kg.

Wyświetlanie od 1 do 27 (z 27 pozycji)
Stron:  1