Spektrofotometry VIS, UV-VIS, XRF, ICP, AAS, AFS

Spektrofotometr, urządzenie do pomiaru transmitancji i / lub absorbancji ciał stałych, ciekłych i gazowych. W ofercie spektrofotometry kontrolowane przez mikroprocesor z cyfrowym wyświetlaczem LCD.

Do najważniejszych części składowych spektrofotometrów należą:

  • źródło promieniowania– np. lampy: deuterowa lub wodorowa dla zakresu UV powinno się charakteryzować ciągłym widmem emisji, o równomiernym rozkładzie energetycznym w całym zakresie stosowania i odpowiednio dużej mocy
  • monochromator- przyrząd optyczny, którego zadaniem jest rozszczepienie promieniowania polichromatycznego, emitowanego przez źródło promieniowania i wyodrębnienie z otrzymanego widma fragmentu zawierającego promieniowanie o żądanej długości fali
  • komora próbki- pojemnik ze specjalnymi naczyniami pomiarowymi w których umieszcza się próbki ciekle i gazowe, stanowią w procesie pomiarowym integralna część spektrofotometru
  • detektor promieniowania -odpowiedzialny jest za przetwarzania energii padającego promieniowania elektromagnetycznego na energię elektryczną, powinny wykazywać wysoką czułość, niski poziom szumów i liniowość przetwarzania sygnałów
  • układ pomiarowy -wychyleniowe i kompensacyjne. Przyrząd pozwalający na rejestracje oraz matematyczną obróbkę danych.

Spektrofotometry UV-Vis
Spektrofotometry UV-Vis
Spektrofotometry Vis
Spektrofotometry Vis
Spektrometry AAS
Spektrometry AAS
Spektrometry AFS
Spektrometry AFS
Spektrometry ICP
Spektrometry ICP
Spektrometry luminescencyjne
Spektrometry luminescencyjne
Spektrometry XRF seria EDX
Spektrometry XRF seria EDX
Spektrometry XRF seria OSA
Spektrometry XRF seria OSA
Spektrometry XRF seria THICK
Spektrometry XRF seria THICK
Spektrometry XRF seria WDX
Spektrometry XRF seria WDX
Spektroskopia Ramana
Spektroskopia Ramana

Spektrofotometry VIS, UV-VIS, XRF, ICP, AAS, AFS w ofercie Labindex

MixSplitter®

MixSplitter®

MIXSplitter® to system, który automatycznie skanuje i identyfikuje związki substancji mieszanych. Przeprowadzone wyniki analizy podają liczbę substancji w mieszaninie oraz ich stężenia; Identyfikacja do 0,1%; Analiza in situ; Wyniki w ciągu 20 minut; Brak ograniczeń dla liczby związków mieszaniny.

RaPort®  do identyfikacji grup materiałów niebezpiecznych

RaPort® do identyfikacji grup materiałów niebezpiecznych

Ręczny spektroskop Raman :RaPort® do identyfikacji grup materiałów niebezpiecznych i nielegalnych. Zapewnia precyzyjną identyfikację materiału z najwyższą mobilnością. Jest kompatybilny z systemem Android lub tabletem / smartfonem z systemem Windows.

RaPort® do identyfikacji cieczy

RaPort® do identyfikacji cieczy

Ręczny spektroskop Raman :RaPort® do identyfikacji cieczy. Zapewnia precyzyjną identyfikację materiału z najwyższą mobilnością. Jest kompatybilny z systemem Android lub tabletem / smartfonem z systemem Windows.

RaPort® do identyfikacji kamieni naturalnych i sztucznych

RaPort® do identyfikacji kamieni naturalnych i sztucznych

Ręczny spektroskop Raman :RaPort® do identyfikacji kamieni naturalnych i sztucznych. Zapewnia precyzyjną identyfikację materiału z najwyższą mobilnością. Jest kompatybilny z systemem Android lub tabletem / smartfonem z systemem Windows.

Spektofotometr VIS DR 3900

Spektofotometr VIS DR 3900

Spektrofotometry VIS. Dokładność długości fali spektrofotometru w zakresie±1,5 nm o powtarzalności fali ±0,1 nm. Spektrofotometry VIS o zakresie długości fali od 320 do 1100 nm. Spektrofotometr posiada technologię RFID –umożliwia to śledzenie próbki, aż do miejsca jej odbioru. Analityczne Zapewnienie, Jakości na spektrofotometrze — bez konieczności stosowania dodatkowego oprogramowania!

Spektrofometr model 4111 RS

Spektrofometr model 4111 RS

Spektrofotometry VIS. Zakres długości fali 330-1000 nm; szerokość pasma 8nm; dokładność długości fali ±2nm; powtarzalnośći długości fali 1nm, źródło światła lampa halogenowa; detektor fotodioda krzemowa.

Spektrofometr model 4201/20

Spektrofometr model 4201/20

Spektrofotometry VIS. Zakres długości fali 325-1000 nm; szerokość pasma 5nm; dokładność długości fali ±2nm; powtarzalność długości fali 1nm; wyświetlacz LCD 3.5 bitowy.

Spektrofometr model 4211/20

Spektrofometr model 4211/20

Spektrofotometry VIS. Zakres długości fali 325-1000 nm; szerokość pasma: 4nm; dokładność długości fali ±1nm; powtarzalność długości fali 0.5nm; wyświetlacz LCD.

Spektrofotometr AA320N

Spektrofotometr AA320N

Spektrofotometry AA320N: System podwójnej wiązki zapewnia automatyczną kompensację dryftu źródła światła i długości fali; Zakres 190-900nm; Dokładność ≤±0.5nm; Powtarzalność ≤0.3nm; Pasma widma 0.2nm, 0.4nm, 0.7nm, 1.4nm, 2.4nm, 5.0nm; Wymiary 1220x770x730mm; Waga 160 kg.

Spektrofotometr AA4530F

Spektrofotometr AA4530F

Spektrofotometry absorpcji atomowej AA4530F: Zakres długości fali 190-900 nm; Szerokość pasma widmowego 0,1, 0,2, 0,4, 1,0 i 2.0nm; Dokładność długości fali ± 0.15nm; Wrażliwość długości fali ≤0.04nm; Stabilność linii bazowej ≤0.002A / 30min (Cu); Dokładność 0,50%.

Spektrofotometr Vis  i2

Spektrofotometr Vis i2

Spektrofotometry Vis i2: Zakres długości fal 320-1100 nm; Przepustowość 2nm; Dokładność długości fali ± 0,5 nm; Powtarzalność długości fali ≤0.2nm; Dokładność fotometryczna ± 0,3% T; Powtarzalność ≤0.15% T; Interferencja światła ≤0.05% T; Hałas ± 0.0005A; Wymiary 460x380x180mm; Waga 15 kg

Spektrofotometry seria G

Spektrofotometry seria G

Spektrofotometry seria G: Komora próbki dla kuwet 5-100mm • Wyposażone w port RS232 • Automatyczna regulacja zera i pełnej skali • Ustawienie funkcji: bezpośredni odczyt stężenia i współczynnik koncentracji • Opcjonalne oprogramowanie

Spektrofotometry seria LEGEND

Spektrofotometry seria LEGEND

Spektrofotometry seria LEGEND: Dwuwiązkowy system optyczny; Kolorowy ekran dotykowy LCD 8 cali; Automatyczna regulacja zera i pełnej skali; Automatyczne ustawienia długości fali; Uchwyt z automatyczna kuwetą; Wymiary 550×430×200(mm).

Spektrofotometry seria N

Spektrofotometry seria N

Spektrofotometry seria N: • Komora dla 5-50mm próbek; • Automatyczna regulacja zera i pełnej skali;• Precyzyjny automatyczny przełącznik T / A; • Wyposażony w port RS232; Wysokiej jakości krzemowy fotometryczny detektor diodowy i 1200 linii / mm siatka dyfrakcyjna zapewniają dokładność i precyzję.

Spektrofotometry seria Novel

Spektrofotometry seria Novel

Spektrofotometry seria Novel • Automatyczne ustawienia długości fali • Komora próbki dla 5-50mm • Precyzyjny automatyczny przełącznik T / A • Automatyczna regulacja zera i pełnej skali • Bezpośredni odczyt stężenia funkcja ustawienia współczynnika koncentracji • Kolorowy ekran dotykowy LCD 7 cali • Wyposażony w port USB

Spektrometr  F1200®

Spektrometr F1200®

UV-VIS-NIR spektrometr F1200® opiera się na 50 mm Czerny Turner oraz 3648 pikselach detektora liniowego CCD, który pozwala uzyskać wysoką rozdzielczość widma i wysoką wydajność zbierania światła; Rozdzielczość spektralna 0,55 – 0,65 nm; Zakres widma 400 – 750 nm, 350 – 900 nm; Max. wydajność 90%; Czas integracji 10 – 500000 ms.

Spektrometr AFS 200T

Spektrometr AFS 200T

Spektrometry AFS 200T fluorescencji atomowej: Zakres analityczny As, Sb, Bi, Hg, Se, Te, Pb, Sn, Ge, Zn, Cd; Granice wykrywalności As, Sb ≤ 0,01 ng/ml; Hg ≤ 0,001 ng/ml; Dokładność ≤ 1%.

Spektrometr ICP 2000

Spektrometr ICP 2000

Spektrometry ICP 2000 firmy Skyray: Częstotliwość pracy 40MHz±0.05%; Stabilność częstotliwości <0.1%; Moc wyjściowa 800W-1200W;Stabilność mocy wyjściowej <0.3%;

Spektrometr ICP ICP2060P

Spektrometr ICP ICP2060P

Spektrometry ICP ICP2060P firmy Skyray: Zakres analityczny od siarki do uranu (76 elementów razem); Dolna granica detekcji 0,1 - 10 ppb lubniższe; Analiza 5-8 elementów na minutę; Czas testu 30 sekund.

Spektrometr L405®

Spektrometr L405®

EnSpectr L405® to wyjątkowy analizator luminescencyjny;wykorzystuje szczelinę wejściową 30 mikrometrów, 1200 g / mm kraty i nowatorski filtr dolnoprzepustowy. Luminescencja jest wzbudzana półprzewodnikowym laserem 100 mW przy 405 nm, aby zapewnić jeden strzał widma luminescencji w zakresie widma od 455 nm do 760 nm.

Spektrometr M in vivo

Spektrometr M in vivo

Spektrometry luminescencyjne M In Vivo: są szeroko stosowane w diagnostyce medycznej, w rafinacji ropy naftowej, w kontroli materiału, w kontroli zanieczyszczenia środowiska i w wielu innych dziedzinach; Wyniki w ułamku sekundy; Pomiary w czasie rzeczywistym; Analiza w odległych częściach próbki; Zakres długości fal laserowych zgodnie z wymaganiami klienta.

Spektrometr R532®

Spektrometr R532®

Spektrometry EnSpectr R532®: Identyfikacja w czasie rzeczywistym nieznanych substancji; Długość fali lasera 532 nm; Moc lasera 30 mW; Zakres widma 100 cm-1 – 4000 cm-1; Czas integracji 10 ms – 500000 ms;Typ detektora CCD; Wymagania systemowe Windows XP/Vista/7/8;

Spektrometr XRF OSA 100

Spektrometr XRF OSA 100

Spektrometry XRF OSA 100 firmy Skyray: zakres analityczny od Ca do U; jednoczesna analiza do 24 kanałów w dowolnej sekwencji,; czas pomiaru ok. 30 sek; okres pomiaru średnio: 12-13 minut dla 12 próbek; limit detekcji 30-500ppm.

Spektrometr XRF WDX 200

Spektrometr XRF WDX 200

Spektrometry XRF WDX 200 firmy Skyray zakres analityczny Na na U (do 10 jednocześnie); detektor proporcjonalny przepływu gazu + uszczelniony detektor proporcjonalny; czas pomiaru ≤3-5 min, system przepływu gazu stabilizator gęstości gazu, stabilizacja ciśnienia do +/- 0,003 kPa .

Spektrometr XRF WDX 400

Spektrometr XRF WDX 400

Spektrometry XRF WDX 400 firmy Skyray zakres analityczny Na na U (do 10 jednocześnie); detektor proporcjonalny przepływu gazu + uszczelniony detektor proporcjonalny; czas pomiaru ≤3-5 min, system przepływu gazu stabilizator gęstości gazu, stabilizacja ciśnienia do +/- 0,003 kPa .

Spektrometr AAS 8000

Spektrometr AAS 8000

Spektrometry AAS 8000 firmy Skyray; Spektrometr AAS 8000 Czerny-Turner; Dokładność długości fali ± 0,25 nM; Przepustowość 0,1 / 0,2 / 0,4 / 0,7 / 1,4 nm; Szybkość nagrzewania 3000 ℃ / s; Precyzja <2%.

Spektrometr EDX GENIUS 9000 XRF

Spektrometr EDX GENIUS 9000 XRF

Spektrometry EDX GENIUS 9000 XRF firmy Skyray: są przeznaczone do analizy środowiska, a w szczególności do pomiaru zanieczyszczenia gleb metalami;25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil; rozdzielczość 139 eV; czas analizy 3-30 sek.; analiza równoczesna do 30 pierwiastków; zakres pomiaru ppm - 99,99%; zakres detekcji do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy.

Spektrometr XRF THICK 800A

Spektrometr XRF THICK 800A

Spektrometry XRF THICK 800A firmy Skyray: zakres analityczny od S do U; pomiar więcej niż 5 warstw; powtarzalność do 10 nm; wysoka dokładność pomiarów, granica wykrywalności 2 ppm; wymiary 648mm x 490mm x 544mm; waga 90 kg.

Spektrometr AAS 6000

Spektrometr AAS 6000

Spektrometry AAS 6000 firmy Skyray: Układ optyczny jednowiązkowy; Ogniskowa monochromatora 350; mm; Zakres długości fali 190 - 900 nm; Przepustowość 0.1nm, 0.2nm, 0.4nm, 0.7nm, 1.4nm, Stabilność 0.003 Abs/0.5 godz.

Spektrometr EDX GENIUS 7000 XRF

Spektrometr EDX GENIUS 7000 XRF

Spektrometry EDX GENIUS 7000 XRF firmy Skyray: są przeznaczone do analizy prób mineralnych w terenie i badań prób gleby; 25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil; rozdzielczość 139 eV; czas analizy 3-30 sek.; analiza równoczesna do 30 pierwiastków; zakres pomiaru ppm - 99,99%; zakres detekcji do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy.

Wyświetlanie od 1 do 30 (z 63 pozycji)
Stron:  1  2  3  [Następna >>]