Spektrometr EDX GENIUS 9000 XRF jest przeznaczony do analizy środowiska, a w szczególności do pomiaru zanieczyszczenia gleb metalami: rtęcią, kadmem, arsenem, miedzią, cynkiem, kobaltem oraz wanadem. Dzięki niewielkiemu rozmiarowi jest dobrym rozwiązaniem do wykonywania pomiarów i analiz, nawet w trudnych warunkach terenowych.
Model |
Spektrometr EDX GENIUS 9000 XRF |
detektor |
25 mm2 detektor SDD, okienko Be o grubości 0.3 mil |
lampa |
rentgenowska 40 kV / 100 uA typu end-window z anodą Ag |
rozdzielczość |
139 eV |
pierwiastki |
od magnezu do uranu |
czas analizy |
3-30 sek |
analiza równoczesna |
do 30 pierwiastków |
zakres pomiaru |
ppm - 99,99% |
zakres detekcji |
do 1 ppm zależnie od pierwiastka i matrycy |
formy próbek |
stałe, płynne i proszkowe |
GPS, WiFi |
moduł GPS i złącze WiFi |
filtr/ kolimator |
6 fi ltrów do wyboru z oprogramowania |
zasilanie |
akumulator 7800 mAh, do 8 godzin ciągłej pracy. |
warunki otoczenia |
temperatura: -20 °C to + 50 °C |
wymiary |
234 x 306 x 82 mm (LxHxW) |
waga |
1.9 kg |